走査型トンネル顕微鏡

走査型トンネル顕微鏡（Scanning Tunneling Microscope: STM、走査トンネル顕微鏡とも言う）は1982年、ビーニヒ(G. Binnig)とローラー(H. Rohrer)によって作り出された実験装置。非常に鋭く尖った探針を導電性の物質の表面または表面上の吸着分子に近づけ、流れるトンネル電流から表面の原子レベルの電子状態、構造など観測するもの。トンネル電流を使うことからこの名がある。走査型プローブ顕微鏡の一つ。